服务领域
农业,农产品和食品,材料,生物医学,医药,石油化工,地质矿产,珠宝首饰,能源,轻工,电子与测量,有机化学,考古
主要技术指标
Cu靶X光管电压≤30kV、电流≤10mA(300W低功率X射线);测角仪半径:≥150 mm;测角仪工作方式:θ/θ方式;扫描范围:-10°~160°;测角仪精度:0.0001°,准确度≤0.02°;半导体阵列探测器,子探测器个数:≥160个;具有静态扫描功能,静态扫描2θ角≥3.7度;背景:< 0.1 cps;样品台满足旋转反射测量,消除样品取向。配EVA和TOPAS分析软件;配消反射单晶硅样品台,可用于微量样品测试
主要功能及应用领域
物相定性半定量、晶粒大小、晶格类型、晶胞参数、微观应变、结晶度、织构等的测定分析,结构解析;广泛应用于金属及合金材料、半导体及超导材料、陶瓷材料、化学及涂层材料、地质矿物、聚合物及催化剂、环境材料、医药品、新材料及纳米材料等领域。
仪器联系人:叶翔宇
联系人电话:17767152686
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