上海材料研究所检测中心

　　技术指标PHILIPS XL30扫描电子显微镜及EDAX DX-4能量色散谱仪(Specification)可同于固体物质的表面形貌观察和微区(～1μn)元素(B5～U92)定性、定量分析的一体化仪器仪器基本参数：1.二次电子分辨率：3.5nm2.放大倍数：×10～×1000003.能谱分辨率：138Kev4.加速电压：1～35kv

　　应用范围断口二次电子图像立体感强，放大倍数连续可调，分辨率高可直接进行断口分析其断裂性质及研究。在冶金及材料科学领域可进行夹杂物，相分析，第二相组成及分析。微小固体物质分析。刑侦残片分析μm及尺寸测量，(如：涂层、渗层微小颗粒等)本仪器配备有经验丰富的资深研究人员。在金属材料，非金属、陶瓷材料，复合材料等领域进行失效分析，组织鉴别，表面形貌，腐蚀研究磨损研究中颇有建树。