- 仪器名称：透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope)
- 价格型号：TEOL2010(JEM)
- 仪器分类：分析仪器/电子光学仪器
- 应用领域：化工原料;能源;礼品 工艺品
- 所属单位：复旦大学化学系
- 所在地点：上海市杨浦区国定路428号同舟大厦3楼
- 产 地：日本
- 产 商：日本电子光学公司
- 价 值：0
- 购置日期：1899-11-30
主要技术指标：点分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。
功能/应用范围：纳米材料，高分子材料，半导体材料，介观材料，微孔材料等的形貌观察、结构分析和微区在线元素分析。
技术特色：除了正常的高分辨透射电镜的功能之外，能在加热条件下观察样品的结构和形貌变化。
主要测试和研究领域：石油/化工材料/珠宝首饰
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