复旦大学高分子科学系

主要技术指标：美国di公司，扫描探针显微镜NanoScope IV原子力显微镜(AFM)能立体三维观察物体形貌，侧向分辨率(X-Y方向) 2nm，垂直分辨率(Z方向)0.1nm。具有多种探测(接触、非接触、轻敲)模式，多种成像(相检测、力调制、侧向力)方法。可选用3种不同量程的扫描器(X-Y方向，Z方向：125×125m, 5.0m(室温~250℃)；10×10m, 2.5m；0.4×0.4m，0.4m)。在原子和分子水平上观察表面拓扑结构及物理性质。

功能/应用范围：●高分子表面形态、结构链堆砌和构象研究●多相高分子组成分布及微尺度性能研究●高分子材料表面摩擦力研究●高分子表面微尺度粘弹性和硬度研究●表面结构与性能随温度变化的研究

主要测试和研究领域：材料/珠宝首饰