- 仪器名称：薄膜厚度测量仪
- 价格型号：XP―1
- 仪器分类：透射电镜
- 应用领域：
- 所属单位：南京航空航天大学
- 所在地点：
- 产 地：
- 产 商：美国AMBIOS公司
- 价 值：0
- 购置日期：0000-00-00
技术指标：扫描长度：0.05-30mm；样品最大厚度：20mm；竖直分辨率/量程：1.5Å/10µm；15Å/100µm；62Å/400µm；
仪器用途：用于薄膜材料样品的膜厚、表面轮廓、平整度、薄膜应力等的测量
收费标准：无
机组负责人：李子全 025-84895871
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