机构用户:
密码:
免费注册
返回首页
中国(上海)检验检测认证公共服务平台
上海精密计量测试研究所
首页
公司简介
服务介绍
检测认证
技术咨询
大型仪器
最新活动
资料下载
资质证书
新闻中心
联系我们
热门推荐
微电子器件温度循环检测
这真不是您需要的服务?
直接提问
|
回首页搜
对应法规:
CNAS认可项目:是
GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序
上海精密计量测试研究所
电话:
021-24181518
手机:
传真:
021-24181517
邮件:
发送邮件
地址:
上海市中春路1333号
推荐服务
PWM脉宽调制电路共模抑制比CMR
PWM脉宽调制电路环路增益Avo检
PWM脉宽调制电路集电极漏电流I
二极管正向电压VF检测
低频电连接器接触件的分离力(
光电耦合器集电极-发射极饱和
半导体分立器件X射线无损检测
半导体分立器件开帽内部设计目
半导体分立器件扫描电子显微镜
半导体分立器件温度冲击试验检
半导体分立器件老炼二极管(整
半导体分立器件芯片目检(半导
半导体集成电路CMOS电路电源电
半导体集成电路CMOS电路输入低
半导体集成电路CMOS电路输出低
©
中国(上海)检验检测认证公共服务平台
版权所有