机构用户:
密码:
免费注册
返回首页
中国(上海)检验检测认证公共服务平台
上海精密计量测试研究所
首页
公司简介
服务介绍
检测认证
技术咨询
大型仪器
最新活动
资料下载
资质证书
新闻中心
联系我们
热门推荐
微电子器件粒子碰撞噪声检测试验检测
这真不是您需要的服务?
直接提问
|
回首页搜
对应法规:
CNAS认可项目:是
GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序
上海精密计量测试研究所
电话:
021-24181518
手机:
传真:
021-24181517
邮件:
发送邮件
地址:
上海市中春路1333号
推荐服务
DC/DC模块输入电流II检测
DC/DC模块输出电压VO检测
PWM脉宽调制电路最小占空比Dcm
PWM脉宽调制电路环路增益Avo检
PWM脉宽调制电路输入失调电压V
三端稳压电源(电压调整器)输
低频电连接器低电平接触电阻检
低频电连接器耐压检测
半导体分立器件恒定加速度检测
半导体分立器件晶体管内部目检
半导体分立器件耐焊接热检测
半导体集成电路CMOS电路输入低
半导体集成电路CMOS电路输出低
半导体集成电路CMOS电路输出高
半导体集成电路CMOS电路输出高
©
中国(上海)检验检测认证公共服务平台
版权所有