电子器件X射线照相检测
这真不是您需要的服务？
直接提问 | 回首页搜
-
对应法规：
CNAS认可项目：是
- 微电子器件试验方法和程序GJB 548B-2005 方法5003 微电路的失效分析程序微电路试验方法标准方法MIL-STD-883H-2010Method 5003 微电路的失效分析程序,射线检验GJB 1187A-2001,Ｘ射线照相检验HBZ 60-1996,GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序方法5009破坏性物理分析3.6去除封盖程序GJB 1187A-2001 射线检验
