主要技术指标:采用3D Flatscan扫描器,扫描范围:XY方向70um、Z方向70um,另外有30um和10um扫描器选配,扫描步进:70um扫描器<1nm、10um扫描器<0.1nm,扫描器厚度7mm,重量75克;近场光学显微镜分辨率大于50nm,依赖近场探针的孔洞尺寸。
功能/应用范围:Nanonics专利的悬臂梁光纤探针(Cantilever NSOM probes)技术,采用原子力显微镜的扫描、反馈方式,极大提高了NSOM信噪比,使得NSOM较易出图容易操作;采用Nanonics专利的3D Flatscan扫描器,使得系统与光学显微镜、拉曼光谱、电子束、离子束兼容;Z向径深达到70um;支持探针扫描和样品扫描,唯一同时支持探针、样品扫描的系统。可以实现突破光学衍射极限的成像,并可以探测样品表面精细结构的非辐射光场信息。
主要测试和研究领域:仪器/仪表其他