复旦大学物理学系

主要技术指标：测量模式：接触模式、轻巧模式、MFM、EFM、智能扫描模式、抬高模式、力曲线模式、TR-Mode、横向力模式、STM、C-AFM；XY方向不小于90µm×90µm，Z方向不小于10µm；Z方向噪声水平小于0.05nm，XY方向噪声水平：小于0.15nm

功能/应用范围：可以测量不同样品的表面形貌进行，也可以测试样品中不同物质的摩擦系数，区别样品不同组分，可以研究材料的磁性性质、导电性质，可测试样品的弹性等信息，可研究样品的相特性等；主要应用于半导体器件、材料、高分子、化学、生物、石墨烯、复杂氧化物等领域。

主要测试和研究领域：电子/信息技术