上海大学实验设备处

联系人：李洁(66135058)

仪器简介：

　　低温扫描隧道显微镜的超高真空系统及控制系统；低温超高真空扫描隧道显微镜；带四接触点的样品测试台；数字式温控器；Matrix扫描探针控制系统；Multiprobe低温系统，Qplus AFM探测器；光学显微镜；升级的QPlus AFM功能控制器。

主要技术指标：

　　1. 真空度：<3×10-10 mbar；

　　2. 可在液氦(～5 K)，液氮(～78 K)；和室温三种温度测量；液氦温度连续测量时间为48小时；

　　3. 具有STM和QPlus-AFM两种成像功能，可获得原子像分辨；可进行隧道电流谱测量。

应用范围：

　　1. 可对材料表面或沉积于衬底表面的纳米结构进行形貌成像，可达到原子像分辨；

　　2. 可在成像同时进行隧道电流谱测量，获得表面局域电子态的信息。