上海大学实验设备处

联系人：胡鹏飞(66135028/18016386398)、彭剑超(66135028/18017086595)

 

仪器简介：

 

　　日本电子高分辨分析型场发射透射电子显微镜，配有透射扫描附件、HAADF探头、双倾样品台、铍双倾样品台、Gatan 5样品单倾台、Gatan 654拉伸样品台、Gatan 794CCD等附件，主要应用于原子尺度研究原子的结构和成分。

 

主要技术指标：

 

　　热场发射电子枪

 

　　加速电压: 200 KV ;

 

　　最大放大倍率X 1,500,000;

 

　　点分辨率：0.24 nm ;

 

　　线分辨率：0.1 nm ;

 

　　最小束斑直径0.5 nm;

 

　　样品台最大倾斜角X =±35o , Y =±30o;

 

　　EDS分辨率：MnKa小于136 eV;

 

　　分析元素范围：B5-U92。

 

应用范围：

 

　　材料的显微结构分析；晶粒形貌；晶体缺陷；纳米颗粒大小形态；界面结构；高分辨晶格像；微区成分分析等。