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上海大学实验设备处

  • 仪器名称:半导体性能表征系统
  • 价格型号:4200-SCS/F
  • 仪器分类:电子测量仪器
  • 应用领域:电子元器件;其他
  • 所属单位:上海大学实验设备处
  • 所在地点:上海市宝山区上大路99号
  • 产  地:美国
  • 产  商:吉时利仪器公司
  • 价  值:0
  • 购置日期:2005-07-18

联系人:唐可(13817224066)

 

仪器简介:

 

  Keithley 4200-SCS/F型半导体器件性能表征系统是一个可以提供精密电流源、电压源和测试功能的测试系统,为半导体器件和测试结构的直流参数测试、实时绘图与分析提供了一套完整的方案,具有高精度和亚fA级的分辨率。

 

主要技术指标:

 

  1.电压测量范围:1μV-200V,电压测量最小分辨率为1μV;

 

  2.电流测量范围:100fA-100mA,电流测量最小量程为100nA;在最小量程上的电流测量最小分辨率为100fA,精度30pA;

 

  3.测量单元数:3;

 

应用范围:

 

  可广泛应用于各类新材料、薄膜材料、异质结构等光电子材料及器件的电学性质和物理特性的研究。

上海大学实验设备处



  • 电话:
  • 86-21-56337984
  • 手机:
  • 传真:
  • 021-66133032
  • 地址:
  • 上海市宝山区上大路99号

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