上海大学实验设备处

联系人：唐可(13817224066)

 

仪器简介：

 

　　原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测形貌的目的，具有原子级的分辨率，能提供真正的三维表面图。测试样品可以是导体，也可以是非导体，而且样品不需要任何特殊处理，是一种非破坏性测试方法。因此原子力显微镜被广泛应用于材料表面形貌和表面微观结构的研究。

 

主要技术指标：

 

　　1.具有ScanMaster闭路扫描系统，能真实地进行表面形貌成像和精确三维测量，

 

　　可实时监控样品和针尖，放大倍数为1000倍；

 

　　2.具有先进材料研究的材料分析软件包(MAP)；

 

　　3.样品最大尺寸：50mm×50mm×20mm；

 

　　4.允许扫描范围：100μm，Z方向为7.5μm；

 

　　5. XY平面分辨率：1Å，Z方向分辨率：0.1Å；

 

　　6.样品台位移：5mm×5mm(精度1μm)

 

应用范围：

 

　　材料表面性能测试