上海大学实验设备处

联系人：耿淑华(13761063745)

 

仪器简介：

 

　　1.DIL提供多种类型的样品支架与炉体配置。

 

　　2.提供各种配件使测试更灵活方便。

 

　　3.提供速率控制烧结软件(RCS)。

 

　　4.提供c-DTA功能，可通过图谱分析计算得到差热DTA曲线。

 

主要技术指标：

 

　　1.升降温速率：0-50 K/min

 

　　2.测量范围：500／5000μm

 

　　3.样品长度：最大50 mm样品直径：最大12 mm

 

　　4.ΔL分辨率：0.125 nm / 1.25 nm

 

　　5.样品支架：石英支架(< 1100°C)，氧化铝支架(< 1700℃)，石墨支架(2000℃)

 

应用范围：

 

　　可测量固体、熔融金属、粉末、涂料等各类样品，广泛应用于无机陶瓷、金属材料、塑胶聚合物、建筑材料、涂层材料、耐火材料、复合材料等领域。