上海大学实验设备处

联系人：陈文觉(56332496)

仪器简介：

　　X射线能谱仪配备在扫描电子显微镜上，该系统使扫描电镜能在原有的功能即形貌观察的基础上，

进一步进行微区成分的分析研究，大大拓宽和深化了扫描电镜的研究领域。该系统可进行元素的定性和

定量分析。

主要技术指标：

　　分析元素范围：Be4-U92

应用范围：

　　适用于各种材料的研究与产品测试，包括金属和非金属等各种材料。