上海大学实验设备处

联系人：陈文觉(56332496)

仪器简介：

　　取向成象分析系统配备在扫描电子显微镜上，该系统使扫描电镜能在原有的功能即形貌观察的基础

上，进一步进行晶体取向、微观结构的分析研究，大大拓宽和深化了扫描电镜的研究领域。该系统可进

行晶体取向分布测定、取向分布函数以及极图与反极图的显示和计算、物相鉴定等。

主要技术指标：

　　入射束为4nA时，图象积分时间<1秒。

应用范围：

　　晶体取向分布测定、取向分布函数以及极图与反极图的显示和计算、物相鉴定。