- 仪器名称：半导体特性测试系统
- 价格型号：4200-SCS
- 仪器分类：其他
- 应用领域：其他
- 所属单位：上海大学实验设备处
- 所在地点：上海市宝山区上大路99号
- 产 地：美国
- 产 商：TEKTRONIX INC
- 价 值：0
- 购置日期：2013-01-15
联系人：曾志刚(66135239)
仪器简介：
Keithley 4200
主要技术指标：
1.电压测量范围：1μV-200 V，电压测量最小分辨率为1μV；
2.电流测量范围：1 pA-1 A，电流测量最小分辨率为0.1 fA
应用范围：
半导体特性分析测试：如I-V、C-V
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