上海大学实验设备处

联系人：陈桂芳(66135051)

仪器简介：

　　原子力显微镜(atomic force microscope，简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测

样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。

主要技术指标：

　　高分辨扫描器: XY方向范围: 9μm x 9μm；Z方向范围: 2μm

　　大范围扫描器: XY方向范围: 90μm x 90μm；Z方向范围: 8μm

应用范围：

　　生物大分子的结构及其他性质的观测研究；

　　细胞的表面形态观测；

　　纳米材料表面形貌的观测。